详细介绍
phoenix最新的micromeIx neo和nanomeIx neo系列产品将高分辨率的二维X射线技术和三维CT 技术完美地集成于一套系统 。 多项独特的创新设计，以及极高的定位精度，使得这套系统成为科学 研究 、 缺陷分析 、 过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
• Waygate Technologies高动态响应的DXR数字探测器使得清晰实时检测影像成为可能
• 高功率180 kV / 20W微纳米射线管可穿透高吸收率的电子产品
• 高效自动的CAD检测程序使得系统设置时间最小化
• 能够实现实时的CAD和检测结果匹配，即使在旋转及倾斜的检测视角
• 极高的缺陷覆盖率和重复性
• 最高细节分辨率，微米管0. 5微米，纳米管0.2微米
• 可选配Flash!TM图像优化技术
• 27寸显示器更容易辨别缺陷
• 可选配高分辨率的三维微/纳米级CT或者planarCT
• 可选配三维CT， 最快10秒完成扫描